Abstract
Es wird eine Vorrichtung zum Bearbeiten einer Probe (7) für eine Untersuchung mithilfe einer Transmissionselektronenmikroskopie mit einem Muldenschleifer, der ein Schleifrad (8) und einen um eine zur Schleifradachse senkrechte Achse antreibbaren, lichtdurchlässigen Probenhalter (6) umfasst, und mit einem ein gegenüber dem Probenhalter (6) ausgerichtetes Objektiv (17) aufweisenden Lichtmikroskop (14) zum Erfassen eines Durchlichts einer die Probe (7) bestrahlenden, weißen Lichtquelle (15) beschrieben. Um das Schleifergebnis zu überprüfen, wird vorgeschlagen, dass das Lichtmikroskop (14) als Polarisationsmikroskop mit zwei einerseits zwischen der Lichtquelle (15) und dem Probenhalter (6) und anderseits zwischen dem Probenhalter (6) und dem Objektiv (17) vorgesehenen Polarisationsfiltern (16, 18) ausgebildet ist, deren Polarisationsebenen um 90° gegeneinander versetzt sind.
| Original language | German (Austria) |
|---|---|
| Patent number | AT526928B1 |
| Publication status | Published - 15 Sept 2024 |
Fields of science
- 103021 Optics
- 103 Physics, Astronomy
- 210006 Nanotechnology
- 103020 Surface physics
JKU Focus areas
- Sustainable Development: Responsible Technologies and Management