Messung kritischer Spezifikationen an Signalquellen - Teil 2

  • Ralf Rudersdorfer

Research output: Contribution to journalArticle

Abstract

Um die Eigenschaften und eine entsprechende Tauglichkeit von Signalquellen technisch fundiert darzustellen, bedient man sich entsprechender Messwerte. Im ersten Teil wurde näher auf die den dargestellten Messungen zu Grunde liegende Baugruppe (ein als 20-MHz-DDS-Board erhältlicher Bausatz) sowie der Signalgenerierung durch das Direct-Digital-Synthesis-Prinzip und auf die Bestimmung linearer Effekte an Signalquellen eingegangen. Die korrekte Ermittlung der Ausgangsimpedanz sowie die automatisierte Darstellung der Ausgangsamplitude über einen weiten Frequenzbereich stellten weitere Schwerpunkte dar. Im vorliegenden Teil finden die Ermittlung der Kurzzeitstabilität und die Bestimmung von linearen und nicht linearen Verzerrungen nachvollziehbar Behandlung.
Original languageGerman (Austria)
Pages (from-to)60-64
Number of pages5
JournalFunk
Volume29
Publication statusPublished - Jun 2005

Fields of science

  • 202 Electrical Engineering, Electronics, Information Engineering
  • 202019 High frequency engineering
  • 202029 Microwave engineering
  • 202030 Communication engineering
  • 202033 Radar technology
  • 202037 Signal processing
  • 202038 Telecommunications

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