Abstract
Dieses Buch beschreibt eine umfassende Kombination von Methoden, die den modernen Virtual Prototype (VP)-basierten Verifikationsfluss für heterogene Systems-on-Chip (SOCs) stark verbessern. Insbesondere kombiniert das Buch Verifikations- und Analyseaspekte über verschiedene Stufen des VP-basierten Verifikationsflusses hinweg und bietet eine neue Perspektive auf die Verifikation, indem es fortschrittliche Techniken wie metamorphes Testen, Datenfluss-Testen und Informationsfluss-Testen einsetzt. Darüber hinaus legt das Buch einen starken Schwerpunkt auf fortschrittliche, abdeckungsorientierte Methoden zur Verifizierung des funktionalen Verhaltens des SOC sowie zur Gewährleistung seiner Sicherheit.
- Bietet eine umfassende Einführung in den modernen VP-basierten Verifikationsablauf für heterogene SOCs;
- Stellt eine neuartige metamorphe Testtechnik für heterogene SOCs vor, die keine Referenzmodelle erfordert;
- Enthält automatisierte, fortschrittliche, auf Datenflussabdeckung basierende Methoden, die auf SystemC/AMS-basierte VP zugeschnitten sind;
- Beschreibt erweiterte funktionale abdeckungsgesteuerte Methoden zur Verifizierung verschiedener funktionaler Verhaltensweisen von RF-Verstärkern.
| Original language | German (Austria) |
|---|---|
| Place of Publication | Wiesbaden |
| Publisher | Springer Vieweg Cham |
| Number of pages | 182 |
| ISBN (Print) | 978-3-031-53151-4 |
| DOIs | |
| Publication status | Published - Jun 2024 |
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