Project Details
Description
Mit Hilfe der spektral aufgelösten Ellipsometrie können die Zusammensetzung und die Dicke eines epitaktischen Films in situ während des Wachstums bestimmt werden. Diese Methode ist für eine große Zahl von Materialien bereits erfolgreich angewendet worden und soll in diesem Projekt für II-VI-Verbindungshalbleiter erprobt werden.
| Status | Finished |
|---|---|
| Effective start/end date | 01.01.1997 → 01.06.1998 |
Fields of science
- 103009 Solid state physics
- 103018 Materials physics
- 103 Physics, Astronomy
- 210006 Nanotechnology
- 103011 Semiconductor physics
- 103017 Magnetism
JKU Focus areas
- Sustainable Development: Responsible Technologies and Management