Advanced Surface Analytics by Electron Spectroscopy (ASAES)

In diesem Projekt soll systematisch grundlegende Expertise an der Ananlytics Core Facility (ACF) im Bereich "Surface" in Bezug auf XPS mit zusätzlichen Präparations- und Analytikmöglichkeiten aufgebaut werden. Dazu gehört einerseits die Untersuchung der Performance einer neuen Argonclusterquelle für die an der JKU (inkl. ihren Partnern) relevanten Materialsysteme, welche unter anderem Polymere, Metalle und ihre Legierungen oder Halbleitermaterialien inkludieren. Besonders die Möglichkeiten, eine chemische Tiefenprofilierung in organischen und daher leicht degradierbaren Materialien und Schichtsystemen zu erstellen, zeichnet diese Methode aus. Optimale Konditionen für die Auswahl der Argonclustergrößen für die einzelnen Materialsysteme, die zu verwendenden Sputterenergien und die daraus resultierenden Sputterraten sind noch unbekannt und müssen mittels systematischer Untersuchungen an Referenzmaterialien und an definierten Schichtsystemen gefunden werden. Des Weiteren wird umfassende messtechnische und analytische Expertise für die Integration von XPS in die bereits bestehenden Methoden des Bereichs "Surface" der ACF aufgebaut. Verwendbare Spotgrößen und Röntgenenergien von XPS und die damit erreichbaren Auflösungen und Nachweisgrenzen werden von einem Senior Researcher systematisch evaluiert und mit den Analyseergebnissen anderer Systeme korreliert. Schließlich wird ein Vakuumtransferhalter für Materialien, die in Umgebungsatmosphäre degradieren, in Betrieb genommen. Das erworbene Knowhow steht sodann für Forschungsaktivitäten der JKU-Institute und deren (industrielle) Partner zur Verfügung.