Untersuchung der durch Elektronenstrahlbeschuss verursachten Kontamination auf Silizium- und Stahlproben im Raster-Augerelektronen-Mikroskop

Activity: Talk or presentationContributed talkunknown

Period06 Jul 2015
Event titleunbekannt/unknown
Event typeConference
LocationAustriaShow on map

Fields of science

  • 103020 Surface physics
  • 210006 Nanotechnology
  • 103021 Optics

JKU Focus areas

  • Engineering and Natural Sciences (in general)