Unsicherheitsbetrachtungen der Temperaturmessung aus Daten einer Multispektralkamera

  • Dominik Exel (Speaker)

Activity: Talk or presentationContributed talkscience-to-science

Description

Dieser Beitrag behandelt die Parameterschätzung und die Messunsicherheit für flächenhafte Temperaturmessungen aus Daten einer Multispektralkamera. Dazu wird ein modellbasierter Schätzalgorithmus zur Temperaturschätzung basierend auf verschiedenen Modellen des Emissionsgrades diskutiert. Eine besondere Herausforderung besteht darin, dass das Modell des spektralen Emissionsgrades sich zeitlich gerade bei hohen Temperaturen aufgrund der wachsenden Oxidationsschichten ändert. Es werden zwei Modelle für die spektrale Emissivität entwickelt, eines für den Beginn des Oxidationsprozesses und eines für den des bereits fortgeschrittenen Zustandes. Für diese Modelle wird die Cramer-Rao Schranke berechnet und mit Simulationen und Messdaten verifiziert.
Period11 May 2017
Event title5. Tagung Innovation Messtechnik (IM2017)
Event typeConference
LocationAustriaShow on map

Fields of science

  • 202027 Mechatronics
  • 202037 Signal processing
  • 202036 Sensor systems
  • 202012 Electrical measurement technology

JKU Focus areas

  • Mechatronics and Information Processing