Zur Hauptnavigation wechseln Zur Suche wechseln Zum Hauptinhalt wechseln

X-ray double and triple crystal diffractometry of mosaic structure in heteroepitaxial layers

  • Eduardo Abramof
  • , Vaclav Holy
  • , Ewald Koppensteiner
  • , J. Kubena
  • , K. Lischka
  • , A. Pesek

Publikation: Beitrag in FachzeitschriftArtikelBegutachtung

OriginalspracheEnglisch
Seiten (von - bis)1736-1743
Seitenumfang8
FachzeitschriftJournal of Applied Physics
Volume74
Ausgabenummer3
DOIs
PublikationsstatusVeröffentlicht - 1993

Wissenschaftszweige

  • 103 Physik, Astronomie
  • 103009 Festkörperphysik
  • 103011 Halbleiterphysik
  • 103017 Magnetismus
  • 103018 Materialphysik
  • 103040 Photonik
  • 202032 Photovoltaik
  • 210006 Nanotechnologie

Dieses zitieren