X-ray diffraction and reflectivity on SiGe quantum cascade structures

T. Roch; Mojmir Meduna; Julian Stangl; A. Daniel; Rainer T. Lechner; Günther Bauer; G. Dehlinger; L. Diehl; U. Gennser; Detlev Grützmacher

X-ray diffraction and reflectivity on SiGe quantum cascade structures

T. Roch
, Mojmir Meduna
, Julian Stangl
, A. Daniel
, Rainer T. Lechner
, Günther Bauer
, G. Dehlinger
, L. Diehl
, U. Gennser
, Detlev Grützmacher

Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Begutachtung

Originalsprache	Englisch
Fachzeitschrift	Applied Physics Letters
Publikationsstatus	Veröffentlicht - 2001

UN SDGs

Dieser Output leistet einen Beitrag zu folgendem(n) Ziel(en) für nachhaltige Entwicklung

SDG 7 – Erschwingliche und saubere Energie

Wissenschaftszweige

103 Physik, Astronomie
103009 Festkörperphysik
103011 Halbleiterphysik
103017 Magnetismus
103018 Materialphysik
103040 Photonik
202032 Photovoltaik
210006 Nanotechnologie

Dieses zitieren

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year = "2001",

language = "English",

journal = "Applied Physics Letters",

publisher = "American Institute of Physics",

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TY - JOUR

T1 - X-ray diffraction and reflectivity on SiGe quantum cascade structures

AU - Roch, T.

AU - Meduna, Mojmir

AU - Stangl, Julian

AU - Daniel, A.

AU - Lechner, Rainer T.

AU - Bauer, Günther

AU - Dehlinger, G.

AU - Diehl, L.

AU - Gennser, U.

AU - Grützmacher, Detlev

PY - 2001

Y1 - 2001

M3 - Article

JO - Applied Physics Letters

JF - Applied Physics Letters

ER -