Strong deviation of the lattice parameter in Si1-x-yGexCy Epilayers from vegard's rule

Günther Bauer; M. Berti; A.V. Drigo; F. Romanato; D. De Salvador; Friedrich Schäffler; Julian Stangl; Stefan Zerlauth

doi:10.1557/proc-533-257

Strong deviation of the lattice parameter in Si1-x-yGexCy Epilayers from vegard's rule

Günther Bauer
, M. Berti
, A.V. Drigo
, F. Romanato
, D. De Salvador
, Friedrich Schäffler
, Julian Stangl
, Stefan Zerlauth

Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Konferenzartikel › Begutachtung

Originalsprache	Englisch
Seiten (von - bis)	257-262
Seitenumfang	6
Fachzeitschrift	MRS Online Proceedings Library
Volume	533
DOIs	https://doi.org/10.1557/proc-533-257
Publikationsstatus	Veröffentlicht - 1998

Wissenschaftszweige

103 Physik, Astronomie
103009 Festkörperphysik
103011 Halbleiterphysik
103017 Magnetismus
103018 Materialphysik
103040 Photonik
202032 Photovoltaik
210006 Nanotechnologie

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10.1557/proc-533-257

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TY - JOUR

T1 - Strong deviation of the lattice parameter in Si1-x-yGexCy Epilayers from vegard's rule

AU - Bauer, Günther

AU - Berti, M.

AU - Drigo, A.V.

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AU - Schäffler, Friedrich

AU - Stangl, Julian

AU - Zerlauth, Stefan

PY - 1998

Y1 - 1998

UR - https://www.scopus.com/pages/publications/0032288155

U2 - 10.1557/proc-533-257

DO - 10.1557/proc-533-257

M3 - Conference article

VL - 533

SP - 257

EP - 262

JO - MRS Online Proceedings Library

JF - MRS Online Proceedings Library

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