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Simultaneous Detection of Optical Retardation and Axis Orientation by Polarization-Sensitive Full-Field Optical Coherence Microscopy for Material Testing

  • Bettina Heise
  • , B. Buchroithner
  • , S.E. Schausberger
  • , P. Hierzenberger
  • , David Stifter

Publikation: Beitrag in FachzeitschriftArtikelBegutachtung

OriginalspracheEnglisch
Aufsatznummer055602
Seiten (von - bis)055602
Seitenumfang1
FachzeitschriftLaser Physics Letters
Volume11
Ausgabenummer5
DOIs
PublikationsstatusVeröffentlicht - 01 Mai 2014

Wissenschaftszweige

  • 210006 Nanotechnologie
  • 103 Physik, Astronomie
  • 103020 Oberflächenphysik
  • 103021 Optik

JKU-Schwerpunkte

  • TNF Allgemein

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