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Imaging of misfit dislocation formation in strained layer heteroepitaxy by Ultrahigh Vacuum Scanning Tunneling Microscopy

Publikation: Beitrag in FachzeitschriftArtikelBegutachtung

OriginalspracheEnglisch
Seiten (von - bis)2236-2239
Seitenumfang4
FachzeitschriftPhysical Review Letters
Volume73
Ausgabenummer16
DOIs
PublikationsstatusVeröffentlicht - 1994

Wissenschaftszweige

  • 103 Physik, Astronomie
  • 103009 Festkörperphysik
  • 103011 Halbleiterphysik
  • 103017 Magnetismus
  • 103018 Materialphysik
  • 103040 Photonik
  • 202032 Photovoltaik
  • 210006 Nanotechnologie

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