Abstract
Diese Arbeit beschäftigt sich anhand von Messungen mit einer eingehenden Analyse eines optischen Tomografiesystems, das im Rahmen einer Dissertation entwickelt wurde. Das Tomografiesystem arbeitet nach dem Frequenzbereichsverfahren, d.h. intensitätsmoduliertes Licht wird in das zu untersuchende Medium eingekoppelt, und das an einer anderen Oberflächenposition detektierte Signal weist dieselbe Frequenz aber eine Amplitudenabschwächung und Phasenverschiebung auf. Aus den Messungen der Amplitudenverhältnisse und der Phasendifferenzen an verschiedenen Positionen lassen sich Informationen über die optischen Eigenschaften des Mediums gewinnen. Es können hierdurch Inhomogenitäten detektiert werden, die einen Absorptions- bzw. Streuungskontrast zu ihrer Umgebung aufweisen. Als charakteristisches Merkmal besitzt das hier vorgestellte Messsystem nur eine Quell- und eine Detektorfaser. Diese sind in einem Messkopf integriert und scannen mit einer Verfahreinheit zweidimensional über die Oberfläche des zu untersuchenden Objekts.
Es wurden sowohl Versuchsreihen mit eigens angefertigten technischen Proben (aus Polyesterharz) als auch in-vivo Messungen durchgeführt, wobei hierbei die Detektion eines bekannten Lipoms (es handelt sich hierbei um einen gutartigen Tumor der Fettgewebszellen) im Unterarm einer Versuchsperson einen Schwerpunkt bildete. Aufbauend auf neuen Erkenntnissen wurden Optimierungen vorgenommen, welche die Handhabbarkeit des Tomografiesystems vereinfachen und eine hohe Qualität der Resultate sicherstellen. Dies umfasst unter anderem die Programmierung von Bedienoberflächen für die Datenerfassung bzw. Rekonstruktion, sowie die Ermittlung von geeigneten Parameterzusammenhängen für die Messungen und die Rekonstruktion der Schnittbilder.
| Titel in Übersetzung | Analysis and Optimization of an Optical Tomography System |
|---|---|
| Originalsprache | Deutsch (Österreich) |
| Publikationsstatus | Veröffentlicht - Feb. 2006 |
Wissenschaftszweige
- 202037 Signalverarbeitung
- 203016 Messtechnik
- 205016 Werkstoffprüfung
JKU-Schwerpunkte
- Mechatronics and Information Processing
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