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Daimler Benz - Messungen

Projekt: Geförderte ForschungAndere Geldgeber

Projektdetails

Beschreibung

Meßung von Einzeltransistorstrukturen und Testschaltungen für die Entwicklung eines geeigneten Schaltungssimulationsmodells für den n-typ SiGe modulationsdotierten Feldeffekt- transistor (MODFET).
StatusAbgeschlossen
Tatsächliches Beginn-/Enddatum01.01.199831.01.1998

Projektbeteiligte

Wissenschaftszweige

  • 202028 Mikroelektronik
  • 202023 Integrierte Schaltkreise
  • 202027 Mechatronik
  • 202018 Halbleiterelektronik
  • 202 Elektrotechnik, Elektronik, Informationstechnik
  • 102005 Computer Aided Design (CAD)
  • 202037 Signalverarbeitung
  • 202006 Computer Hardware

JKU-Schwerpunkte

  • Digital Transformation