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Unsicherheitsbetrachtungen der Temperaturmessung aus Daten einer Multispektralkamera

  • Dominik Exel (Vortragende*r)

Aktivität: Vortrag oder PräsentationVortrag nach Bewerbung und AuswahlScience-to-science

Beschreibung

Dieser Beitrag behandelt die Parameterschätzung und die Messunsicherheit für flächenhafte Temperaturmessungen aus Daten einer Multispektralkamera. Dazu wird ein modellbasierter Schätzalgorithmus zur Temperaturschätzung basierend auf verschiedenen Modellen des Emissionsgrades diskutiert. Eine besondere Herausforderung besteht darin, dass das Modell des spektralen Emissionsgrades sich zeitlich gerade bei hohen Temperaturen aufgrund der wachsenden Oxidationsschichten ändert. Es werden zwei Modelle für die spektrale Emissivität entwickelt, eines für den Beginn des Oxidationsprozesses und eines für den des bereits fortgeschrittenen Zustandes. Für diese Modelle wird die Cramer-Rao Schranke berechnet und mit Simulationen und Messdaten verifiziert.
Zeitraum11 Mai 2017
Ereignistitel5. Tagung Innovation Messtechnik (IM2017)
VeranstaltungstypKonferenz
OrtÖsterreichAuf Karte anzeigen

Wissenschaftszweige

  • 202027 Mechatronik
  • 202037 Signalverarbeitung
  • 202036 Sensorik
  • 202012 Elektrische Messtechnik

JKU-Schwerpunkte

  • Mechatronics and Information Processing